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臺式測厚儀

簡要描述:C640M型號臺式測厚儀——高精度、高重復性的機械接觸式精密測厚儀,專業(yè)適用于量程范圍內的薄膜、薄片、紙張、瓦楞紙板、紡織材料、非織造布、固體絕緣材料等各種材料的厚度精密測量。可選配自動進樣機,更加準確、高效的進行連續(xù)多點測量。

  • 產品型號:C640M型號
  • 廠商性質:生產廠家
  • 更新時間:2024-04-22
  • 訪  問  量:1905

詳細介紹

C640M型號臺式測厚儀——高精度、高重復性的機械接觸式精密測厚儀,專業(yè)適用于量程范圍內的薄膜、薄片、紙張、瓦楞紙板、紡織材料、非織造布、固體絕緣材料等各種材料的厚度精密測量??蛇x配自動進樣機,更加準確、高效的進行連續(xù)多點測量。

設備技術特征:
1、專業(yè)——Labthink在不斷的創(chuàng)新研發(fā)和技術積累中推陳出新,使用超高精度的位移傳感器、科學的結構布局及專業(yè)的控制技術,實現(xiàn)*的測試穩(wěn)定性、重復性及精度。
2、高效——采用高效率、自動化結構設計,有效簡化人員參與過程;智能的控制及數(shù)據處理功能,為用戶提供更便捷可靠的試驗操作和結果處理。
3、智能——搭載Labthink版控制分析軟件,具有友好的操作界面、智能的數(shù)據處理、嚴格的人員權限管理和安全的數(shù)據存儲;支持Labthink*的DataShieldTM數(shù)據盾系統(tǒng)注3(可選配置),為用戶提供極為安全可靠的測試數(shù)據和測試報告管理功能。

C640M型號臺式測厚儀測試原理:
將預先處理好的薄型試樣的一面置于下測量面上,與下測量面平行且中心對齊的上測量面,以一定的壓力,落到薄型試樣的另一面上,同測量頭一體的傳感器自動檢測出上下測量面之間的距離,即為薄型試樣的厚度。

執(zhí)行標準:
ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 9073-2、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702
中國《藥品生產質量管理規(guī)范》(GMP)對軟件的有關要求(可選配置)

C640M型號應用材料:
基礎應用:
薄膜、薄片——各種塑料薄膜、薄片、隔膜等的厚度測定
紙——各種紙張、紙板、復合紙板等的厚度測定
擴展應用:
金屬片、硅片——硅片、箔片、各種金屬片等的厚度測定
瓦楞紙板——瓦楞紙板的厚度測定
紡織材料——各類紡織材料如編織織物、針織物、涂層織物等的厚度測定
非織造布——各類非織造布如尿不濕、衛(wèi)生巾、口罩等的厚度測定
其它材料——固體電絕緣材料、膠黏帶、土工合成材料、橡膠等的厚度測定

C640M型號技術指標:
C640M型號參數(shù):
測試范圍(標配):0~2mm
分辨率:0.1μm 
重復性:0.8μm
測量范圍(選配):0~6、0~12mm
測量間距:0~1000mm(可設定)
進樣速度:1.5~80mm/s(可設定)
附加功能:
自動進樣機:可選配置
DataShieldTM數(shù)據盾:可選配置
GMP計算機系統(tǒng)要求:可選配置
測量方式:機械接觸式
測量壓力及接觸面積:
薄膜:17.5±1 kPa、50 mm2
紙張:100±1 kPa(標準配置) / 50±1 kPa(可選配置)、200 mm2

產品配置:
通用配置: 主機、內嵌軟件、標準量塊(00級,0.5mm)、顯示器、鍵盤、鼠標、打印機
其他配置:標準量塊、GMP標準用配套組件、自動進樣機、樣品托座、配重砝碼、DataShieldTM數(shù)據盾系統(tǒng)

 

 

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